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LCD材料的超低阶双折射测量
用于LCD的Exicor GEN系列
Hinds Instruments 公司的大尺寸高精应力双折射分布测量系统用于LED液晶玻璃基板的应力分布测量。产品测量精度*（0.005 nm），且定制平台扫描，用于LED液晶面板尺寸（Exicor Gen 6 - 1550 mm x 1850 mm / Exicor Gen 5 1150 mm x 1350 mm ）光学玻璃应力测量，大型液晶基板应力分布测量，应力测量。光学玻璃应力测量，如用于LCD（高达1500mm x 1500mm）的光学材料。
重要特点
占地小 - 大限度地减少设备所需的工厂空间
平台设计 -设计使可测量面积尽可能大
强大的自动化 - 质量阶段和硬件正常运行时间
稳定的服务支持 - 各地的支持中心和备件中心
符合工业标准 - 符合S2 / S8和CE标准
灵活的软件 - 优化的软件。 自定义功能和DLL接口可用
低维护设计 - 易于维修的组件
负载辅助 - 倾斜阶段选项
光学玻璃应力测量
http://www.opcrown.com.cn/Products-36962211.html
https://www.chem17.com/st285519/product_36962211.html
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